Analysis of atomic force microscopy surface images by means of higher-harmonic tip vibrations modes
Wariant tytułu: Autor: Temat i słowa kluczowe:mikroskop sił atomowych ; obrazowanie ; prace doktorskie
Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania: Współtwórca:Smulko, Janusz. Promotor ; Bielecki, Zbigniew. Rec. ; Gotszalk, Teodor Paweł. Rec.
Typ zasobu: Format: Źródło: Język: Powiązania:Politechnika Gdańska ; Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
Prawa:autor ; utwór chroniony prawem autorskim
Prawa do dysponowania publikacją:Biblioteka Politechniki Gdańskiej
Prawa dostępu:dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja źródła: